解决规划
存储芯片测试规划
行业测试挑战
规划概述
存储芯片测试规划概述
针对存储类芯片测试，南宫电子游戏科技推出针对大中幼分歧芯片容量的测试规划：ST2500E、ST2500EX和Flex10K-M。ST2500E、ST2500EX应对中幼容量存储芯片测试，可别离支持512至1024路数字通路，对于市场上EEPROM、中幼容量Nor Flash及嵌入式存储器有着优良的支持。适合的DIO通路与电源、高压源配比，？榛淖试，使得多site扩大单一易行。高容量向量深度，可满足中幼容量存储芯片的存储职能测试。系统、各？榧涓咚偻ㄑ洞，算法硬件调度，可有效提升测试效能。
Flex10K-M系列是针对FLASH/EEPROM/SRAM等存储类芯片测试研发的大容量高密度数字测试系统，系统能够提供多达2560数字通路，768DPS通路，支持ALPG算法，能够支持Nor Flash/Nand Flash/EEPROM/SRAM芯片测试。
规划介绍
主题优势
CORE ADVANTAGES
有关产品
ST2500EX
支持1024数字I/O通路配置，选取Direct Docking/Cable Mount衔接方式
ST2500EX
支持1024数字I/O通路配置，选取Direct Docking/Cable Mount衔接方式
ST2500E
单机最高支持16块板卡，最高支持512数字I/O通路
ST2500E
单机最高支持16块板卡，最高支持512数字I/O通路
ST2500A
单机支持16个槽位，支持分歧职能板卡混插
ST2500A
单机支持16个槽位，支持分歧职能板卡混插
ST2516/ST2532
160~1280数字通路，160~1280PPMU通路，20~160DPS
ST2516/ST2532
160~1280数字通路，160~1280PPMU通路，20~160DPS
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